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Sliced Wasserstein Sketches with Error Certificates

该论文研究一维概率测度在二次 Wasserstein 距离下的最优自由权重 M 原子量化,并通过切片扩展到高维,用 L 个共享投影得到 O(LM) 比较时间的草图。核心贡献是将平方距离误差精确分解为残差与划分失配项,给出可计算误差证书;最优草图在有限矩条件下达到 O(M^{-1}) 误差。实验显示其大幅降低存储并保持分类性能,可作为紧凑池化层端到端学习。